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Handbook of sample preparation for scanning electron microscopy and X-ray microanalysis

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Detalhes bibliográficos
Autor principal: Echlin, Patrick.
Formato: Livro
Idioma:Inglês
Publicado em: Springer US, 2009
Assuntos:
Acesso em linha:https://minerva.ufrj.br/F/?func=direct&doc_number=000807209&local_base=UFR01
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