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Uma nova técnica para medição on-chip de razões de capacitâncias /
[PT]Diversos circuitos eletrônicos, voltados para aplicações na área de instrumentação, como filtros e conversores (A/D e D/A) necessitam que as razões de capacitâncias sejam realizadas com precisão bastante elevada. Visando verificar a precisão nas implementações, após a fabricação do circuito inte...
保存先:
| 主要な著者: | , , |
|---|---|
| フォーマット: | Livro |
| 言語: | Português |
| 出版事項: |
UFRJ,
2012.
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| 主題: | |
| オンライン･アクセス: | https://minerva.ufrj.br/F/?func=direct&doc_number=000802347&local_base=UFR01 |
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