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Applied logistic regression /

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Detalhes bibliográficos
Main Authors: Hosmer, David W., Lemeshow, Stanley
Formato: Livro
Idioma:Português
Publicado em: John Wiley & Sons, 2000
Edição:2. ed.
Colecção:Wiley series in probability and statisitcs : texts and references section
Assuntos:
Acesso em linha:https://minerva.ufrj.br/F/?func=direct&doc_number=000747313&local_base=UFR01
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