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Binary parity diagrams and multifault testable circuits /

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Detalhes bibliográficos
Main Authors: Kundu, Sandio., IBM T. J. Watson Research Center.
Formato: Livro
Idioma:Inglês
Publicado em: Inter Business Machines T J W Res Center, 1993.
Colecção:Research report
Assuntos:
Acesso em linha:https://minerva.ufrj.br/F/?func=direct&doc_number=000040873&local_base=UFR01
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