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Binary parity diagrams and multifault testable circuits /
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Main Authors: | , |
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Formato: | Livro |
Idioma: | Inglês |
Publicado em: |
Inter Business Machines T J W Res Center,
1993.
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Colecção: | Research report |
Assuntos: | |
Acesso em linha: | https://minerva.ufrj.br/F/?func=direct&doc_number=000040873&local_base=UFR01 |
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