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Reproducible strain measurement in electronic devices by applying integer multiple to scanning grating in scanning moiré fringe imaging
Por
Suhyun Kim
,
Younheum
Jung
,
Joong Jung Kim
,
Sunyoung Lee
,
Haebum Lee
,
Yukihito Kondo
Publicado em 2014-10-01
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Reliable strain measurement in transistor arrays by robust scanning transmission electron microscopy
Por
Suhyun Kim
,
Joong Jung Kim
,
Younheum
Jung
,
Kyungwoo Lee
,
Gwangsun Byun
,
KyoungHwan Hwang
,
Sunyoung Lee
,
Kyupil Lee
Publicado em 2013-09-01
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