1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
по Williams, John W, Plassman, B L, Burke, J, Benjamin, S
Опубликовано в: Evid Rep Technol Assess (Full Rep) (2010)
Полный текстОпубликовано в: Evid Rep Technol Assess (Full Rep) (2010)
Полный текст
Artigo
12
13
14
15
16
17
18
по Munoz, Samuel E., Gruley, Kristine E., Fike, David A., Schroeder, Sissel, Williams, John W.
Опубликовано в: Proc Natl Acad Sci U S A (2015)
Полный текстОпубликовано в: Proc Natl Acad Sci U S A (2015)
Полный текст
Полный текст
Artigo
19
20