1
Por Drexler, E. S, Bischoff, J. E, Slifka, A. J, McCowan, C. N, Quinn, T. P, Shandas, R, Ivy, D. D, Stenmark, K. R
Publicado no J Res Natl Inst Stand Technol (2008)
Obter o texto integralPublicado no J Res Natl Inst Stand Technol (2008)
Obter o texto integral
Obter o texto integral
Artigo
2