Model-free classification of X-ray scattering signals applied to image segmentation

Por Lutz-Bueno, V., Arboleda, C., Leu, L., Blunt, M. J., Busch, A., Georgiadis, A., Bertier, P., Schmatz, J., Varga, Z., Villanueva-Perez, P., Wang, Z., Lebugle, M., David, C., Stampanoni, M., Diaz, A., Guizar-Sicairos, M., Menzel, A.
Publicado no J Appl Crystallogr (2018)