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Por Lyttelton, M. P., Newlands, E. S., Giles, C., Bower, M., Guimaraes, A., O'Reilly, S., Rustin, G. J., Samson, D., Kanfer, E. J.
Publicado em 1998
Obter o texto integralPublicado em 1998
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Artigo
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Por Seidenfeld, J, Samson, D J, Aronson, N, Albertson, P C, Bayoumi, A M, Bennett, C, Brown, A, Garber, A, Gere, M, Hasselblad, V, Wilt, T, Ziegler, K
Publicado no Evid Rep Technol Assess (Summ) (1999)
Obter o texto integralPublicado no Evid Rep Technol Assess (Summ) (1999)
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Artigo
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Por Kanfer, E. J., McGuigan, D., Samson, D., Abboudi, Z., Abrahamson, G., Apperley, J. F., Chilcott, S., Craddock, C., Davis, J., MacDonald, C., Macdonald, D., Olavarria, E., Philpott, N., Rustin, G. J., Seckl, M. J., Sekhar, M., Stern, S., Newlands, E. S.
Publicado em 1998
Obter o texto integralPublicado em 1998
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