1
Por Shekelle, P, Coulter, I, Hardy, M L, Morton, S C, Favreau, J T, Gagne, J, Coulter, S A, Udani, J, Roth, E A, Jungvig, L K, Newberry, S, Rohr, L, Ramirez, L R
Publicado no Evid Rep Technol Assess (Summ) (2003)
Obter o texto integralPublicado no Evid Rep Technol Assess (Summ) (2003)
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Artigo
2
Por Deubler, D. A., Williams, B. J., Zhu, X. L., Steele, M. R., Rohr, L. R., Jensen, J. C., Stephenson, R. A., Changus, J. E., Miller, G. J., Becich, M. J., Brothman, A. R.
Publicado em 1997
Obter o texto integralPublicado em 1997
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