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Por Rotman, B. L., Sullivan, A. N., McDonald, T., DeSmedt, P., Goodnature, D., Higgins, M., Suermondt, H. J., Young, C. Y., Owens, D. K.
Publicado em 1995
Obter o texto integralPublicado em 1995
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Artigo
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Por Rotman, B L, Sullivan, A N, McDonald, T W, Brown, B W, DeSmedt, P, Goodnature, D, Higgins, M C, Suermondt, H J, Young, C, Owens, D K
Publicado em 1996
Obter o texto integralPublicado em 1996
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Artigo
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Por Bravata, D M, McDonald, K, Owens, D K, Buckeridge, D, Haberland, C, Rydzak, C, Schleinitz, M, Smith, W M, Szeto, H, Wilkening, D, Musen, M, Duncan, B W, Nouri, B, Dangiolo, M B, Liu, H, Shofer, S, Graham, J, Davies, S
Publicado no Evid Rep Technol Assess (Summ) (2002)
Obter o texto integralPublicado no Evid Rep Technol Assess (Summ) (2002)
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