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Por Warneke, C., Trainer, M., de Gouw, J.A., Parrish, D.D., Fahey, D.W., Ravishankara, A.R., Middlebrook, A.M., Brock, C.A., Roberts, J.M., Brown, S.S., Neuman, J.A., Lerner, B.M., Lack, D., Law, D., Hübler, G., Pollack, I., Sjostedt, S., Ryerson, T.B., Gilman, J.B., Liao, J., Holloway, J., Peischl, J., Nowak, J.B., Aikin, K., Min, K.-E., Washenfelder, R.A., Graus, M.G., Richardson, M., Markovic, M.Z., Wagner, N.L., Welti, A., Veres, P.R., Edwards, P., Schwarz, J.P., Gordon, T., Dube, W.P., McKeen, S., Brioude, J., Ahmadov, R., Bougiatioti, A., Lin, J.J., Nenes, A., Wolfe, G.M., Hanisco, T.F., Lee, B.H., Lopez-Hilfiker, F.D., Thornton, J.A., Keutsch, F.N., Kaiser, J., Mao, J., Hatch, C.
Publicado no Atmos Meas Tech (2016)
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