Thermally Introduced Bismuth Clustering in Ga(P,Bi) Layers under Group V Stabilised Conditions Investigated by Atomic Resolution In Situ (S)TEM

מאת Straubinger, R., Widemann, M., Belz, J., Nattermann, L., Beyer, A., Volz, K.
הוצא לאור ב Sci Rep (2018)

An experimental approach for real time mass spectrometric CVD gas phase investigations

מאת Nattermann, L., Maßmeyer, O., Sterzer, E., Derpmann, V., Chung, H. Y., Stolz, W., Volz, K.
הוצא לאור ב Sci Rep (2018)