Automated Defect and Correlation Length Analysis of Block Copolymer Thin Film Nanopatterns

von Murphy, Jeffrey N., Harris, Kenneth D., Buriak, Jillian M.
Veröffentlicht in PLoS One (2015)

Surface Micropatterning of Uniaxially Oriented Polyethylene Films Using Interference Holography for Strain Sensors

von Shen, Lihua, Lafleur, Sarah S. D., Houben, Simon J. A., Murphy, Jeffrey N., Severn, John R., Bastiaansen, Cees W. M.
Veröffentlicht in Langmuir (2017)