Nanoscale imaging of buried topological defects with quantitative X-ray magnetic microscopy

Por Blanco-Roldán, C., Quirós, C., Sorrentino, A., Hierro-Rodríguez, A., Álvarez-Prado, L. M., Valcárcel, R., Duch, M., Torras, N., Esteve, J., Martín, J. I., Vélez, M., Alameda, J. M., Pereiro, E., Ferrer, S.
Publicado no Nat Commun (2015)