Detailed characterization of electron sources yielding first demonstration of European X-ray Free-Electron Laser beam quality

per F. Stephan, C. H. Boulware, M. Krasilnikov, J. Bähr, G. Asova, A. Donat, U. Gensch, H. J. Grabosch, M. Hänel, L. Hakobyan, H. Henschel, Y. Ivanisenko, L. Jachmann, S. Khodyachykh, M. Khojoyan, W. Köhler, S. Korepanov, G. Koss, A. Kretzschmann, H. Leich, H. Lüdecke, A. Meissner, A. Oppelt, B. Petrosyan, M. Pohl, S. Riemann, S. Rimjaem, M. Sachwitz, B. Schöneich, T. Scholz, H. Schulze, J. Schultze, U. Schwendicke, A. Shapovalov, R. Spesyvtsev, L. Staykov, F. Tonisch, T. Walter, S. Weisse, R. Wenndorff, M. Winde, L. v. Vu, H. Dürr, T. Kamps, D. Richter, M. Sperling, R. Ovsyannikov, A. Vollmer, J. Knobloch, E. Jaeschke, J. Boster, R. Brinkmann, S. Choroba, K. Flechsenhar, K. Flöttmann, W. Gerdau, V. Katalev, W. Koprek, S. Lederer, C. Martens, P. Pucyk, S. Schreiber, S. Simrock, E. Vogel, V. Vogel, K. Rosbach, I. Bonev, I. Tsakov, P. Michelato, L. Monaco, C. Pagani, D. Sertore, T. Garvey, I. Will, I. Templin, W. Sandner, W. Ackermann, E. Arévalo, E. Gjonaj, W. F. O. Müller, S. Schnepp, T. Weiland, F. Wolfheimer, J. Rönsch, J. Rossbach
Publicat 2010-02-01