Detailed characterization of electron sources yielding first demonstration of European X-ray Free-Electron Laser beam quality

מאת F. Stephan, C. H. Boulware, M. Krasilnikov, J. Bähr, G. Asova, A. Donat, U. Gensch, H. J. Grabosch, M. Hänel, L. Hakobyan, H. Henschel, Y. Ivanisenko, L. Jachmann, S. Khodyachykh, M. Khojoyan, W. Köhler, S. Korepanov, G. Koss, A. Kretzschmann, H. Leich, H. Lüdecke, A. Meissner, A. Oppelt, B. Petrosyan, M. Pohl, S. Riemann, S. Rimjaem, M. Sachwitz, B. Schöneich, T. Scholz, H. Schulze, J. Schultze, U. Schwendicke, A. Shapovalov, R. Spesyvtsev, L. Staykov, F. Tonisch, T. Walter, S. Weisse, R. Wenndorff, M. Winde, L. v. Vu, H. Dürr, T. Kamps, D. Richter, M. Sperling, R. Ovsyannikov, A. Vollmer, J. Knobloch, E. Jaeschke, J. Boster, R. Brinkmann, S. Choroba, K. Flechsenhar, K. Flöttmann, W. Gerdau, V. Katalev, W. Koprek, S. Lederer, C. Martens, P. Pucyk, S. Schreiber, S. Simrock, E. Vogel, V. Vogel, K. Rosbach, I. Bonev, I. Tsakov, P. Michelato, L. Monaco, C. Pagani, D. Sertore, T. Garvey, I. Will, I. Templin, W. Sandner, W. Ackermann, E. Arévalo, E. Gjonaj, W. F. O. Müller, S. Schnepp, T. Weiland, F. Wolfheimer, J. Rönsch, J. Rossbach
יצא לאור 2010-02-01