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Por Kane, R L, Johnson, P E, Town, R J, Butler, M
Publicado no Evid Rep Technol Assess (Summ) (2004)
Obter o texto integralPublicado no Evid Rep Technol Assess (Summ) (2004)
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Artigo
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Por Wilt, T J, Niewoehner, D, Kim, C, Kane, R L, Linabery, A, Tacklind, J, Macdonald, R, Rutks, I
Publicado no Evid Rep Technol Assess (Summ) (2005)
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Artigo
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Por Holtzman, J, Schmitz, K, Babes, G, Kane, R L, Duval, S, Wilt, T J, MacDonald, R M, Rutks, I
Publicado no Evid Rep Technol Assess (Summ) (2004)
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Artigo
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Por Kane, R L, Saleh, K J, Wilt, T J, Bershadsky, B, Cross, W W, MacDonald, R M, Rutks, I
Publicado no Evid Rep Technol Assess (Summ) (2003)
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Artigo