Electrically reversible cracks in an intermetallic film controlled by an electric field

Por Liu, Z. Q., Liu, J. H., Biegalski, M. D., Hu, J.-M., Shang, S. L., Ji, Y., Wang, J. M., Hsu, S. L., Wong, A. T., Cordill, M. J., Gludovatz, B., Marker, C., Yan, H., Feng, Z. X., You, L., Lin, M. W., Ward, T. Z., Liu, Z. K., Jiang, C. B., Chen, L. Q., Ritchie, R. O., Christen, H. M., Ramesh, R.
Publicado no Nat Commun (2018)