Snow albedo sensitivity to macroscopic surface roughness using a new ray-tracing model

Por F. Larue, G. Picard, L. Arnaud, I. Ollivier, C. Delcourt, M. Lamare, M. Lamare, F. Tuzet, F. Tuzet, J. Revuelto, M. Dumont
Publicado em 2020-05-01