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Nanoscratch Characterization of GaN Epilayers on c- and a-Axis Sapphire Substrates
Por
Lin, Meng-Hung
,
Wen, Hua-Chiang
,
Jeng, Yeau-Ren
,
Chou
,
Chang
-
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Publicado em 2010
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Chou, Chang-Pin
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