Assessing noise sources at synchrotron infrared ports

Por Lerch, Ph., Dumas, P., Schilcher, T., Nadji, A., Luedeke, A., Hubert, N., Cassinari, L., Boege, M., Denard, J.-C., Stingelin, L., Nadolski, L., Garvey, T., Albert, S., Gough, Ch., Quack, M., Wambach, J., Dehler, M., Filhol, J.-M.
Publicado em 2012