Trích dẫn APA

Lee, H., Kim, K., & Lee, Y. (2020). Development of Stiffness Measurement Program Using Color Mapping in Shear Wave Elastography. Diagnostics (Basel).

Trích dẫn kiểu Chicago

Lee, Haneul, Kyuseok Kim, và Youngjin Lee. "Development of Stiffness Measurement Program Using Color Mapping in Shear Wave Elastography." Diagnostics (Basel) 2020.

Trích dẫn MLA

Lee, Haneul, Kyuseok Kim, và Youngjin Lee. "Development of Stiffness Measurement Program Using Color Mapping in Shear Wave Elastography." Diagnostics (Basel) 2020.

Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.