Weigel, T., Funke, C., Zschornak, M., Behm, T., Stöcker, H., Leisegang, T., & Meyer, D. C. (2020). X-ray diffraction using focused-ion-beam-prepared single crystals. J Appl Crystallogr.
Stile di citazione ChicagoWeigel, Tina, Claudia Funke, Matthias Zschornak, Thomas Behm, Hartmut Stöcker, Tilmann Leisegang, e Dirk C. Meyer. "X-ray Diffraction Using Focused-ion-beam-prepared Single Crystals." J Appl Crystallogr 2020.
Citazione MLAWeigel, Tina, et al. "X-ray Diffraction Using Focused-ion-beam-prepared Single Crystals." J Appl Crystallogr 2020.
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