Meng, B., Yuan, D., & Xu, S. (2019). Atomic-Scale Characterization of Slip Deformation and Nanometric Machinability of Single-Crystal 6H-SiC. Nanoscale Res Lett.
Citação norma ChicagoMeng, Binbin, Dandan Yuan, and Shaolin Xu. "Atomic-Scale Characterization of Slip Deformation and Nanometric Machinability of Single-Crystal 6H-SiC." Nanoscale Res Lett 2019.
Citação norma MLAMeng, Binbin, Dandan Yuan, and Shaolin Xu. "Atomic-Scale Characterization of Slip Deformation and Nanometric Machinability of Single-Crystal 6H-SiC." Nanoscale Res Lett 2019.
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