Jang, H., Bittle, E. G., Zhang, Q., Biacchi, A. J., Richter, C. A., & Gundlach, D. J. (2019). Electrical Detection of Singlet Fission in Single Crystal Tetracene Transistors. ACS Nano.
Citação norma ChicagoJang, Hyuk-Jae, Emily G. Bittle, Qin Zhang, Adam J. Biacchi, Curt A. Richter, and David J. Gundlach. "Electrical Detection of Singlet Fission in Single Crystal Tetracene Transistors." ACS Nano 2019.
Citação norma MLAJang, Hyuk-Jae, et al. "Electrical Detection of Singlet Fission in Single Crystal Tetracene Transistors." ACS Nano 2019.
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