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Zarzycki, A., Galeano, J., Bargiel, S., Andrieux, A., & Gorecki, C. (2019). An Optical Diffuse Reflectance Model for the Characterization of a Si Wafer with an Evaporated SiO(2) Layer. Sensors (Basel).

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Zarzycki, Artur, July Galeano, Sylwester Bargiel, Aurore Andrieux, and Christophe Gorecki. "An Optical Diffuse Reflectance Model for the Characterization of a Si Wafer With an Evaporated SiO(2) Layer." Sensors (Basel) 2019.

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Zarzycki, Artur, et al. "An Optical Diffuse Reflectance Model for the Characterization of a Si Wafer With an Evaporated SiO(2) Layer." Sensors (Basel) 2019.

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