Trích dẫn APA

Yeo, J., & Lee, J. (2019). High-Sensitivity Microwave Sensor Based on an Interdigital-Capacitor-Shaped Defected Ground Structure for Permittivity Characterization. Sensors (Basel).

Trích dẫn kiểu Chicago

Yeo, Junho, và Jong-Ig Lee. "High-Sensitivity Microwave Sensor Based On an Interdigital-Capacitor-Shaped Defected Ground Structure for Permittivity Characterization." Sensors (Basel) 2019.

Trích dẫn MLA

Yeo, Junho, và Jong-Ig Lee. "High-Sensitivity Microwave Sensor Based On an Interdigital-Capacitor-Shaped Defected Ground Structure for Permittivity Characterization." Sensors (Basel) 2019.

Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.