Ye, L., Rouxel, J. R., Cho, D., & Mukamel, S. (2019). Imaging electron-density fluctuations by multidimensional X-ray photon-coincidence diffraction. Proc Natl Acad Sci U S A.
Chicago-tyylinen lähdeviittausYe, Lyuzhou, Jérémy R. Rouxel, Daeheum Cho, ja Shaul Mukamel. "Imaging Electron-density Fluctuations By Multidimensional X-ray Photon-coincidence Diffraction." Proc Natl Acad Sci U S A 2019.
MLA-viiteYe, Lyuzhou, Jérémy R. Rouxel, Daeheum Cho, ja Shaul Mukamel. "Imaging Electron-density Fluctuations By Multidimensional X-ray Photon-coincidence Diffraction." Proc Natl Acad Sci U S A 2019.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.