Ir para o conteúdo
VuFind
החשבון שלך
יציאה מהחשבון
כניסה לחשבון
שפה
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português (Brasil)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
כל השדות
מחבר
כותר
כותרת כתב-העת
נושא
ISBN/ISSN
תג
מצא
מתקדם
X-ray-induced sample damage at...
שליחת רשומה
שליחת רשומה:
X-ray-induced sample damage at the Mn L-edge: a case study for soft X-ray spectroscopy of transition metal complexes in solution
אל:
הודעה:
×
טוען...