APA-viite

Dziarzhytski, S., Siewert, F., Sokolov, A., Gwalt, G., Seliger, T., Rübhausen, M., . . . Brenner, G. (2018). Diffraction gratings metrology and ray-tracing results for an XUV Raman spectrometer at FLASH. J Synchrotron Radiat.

Chicago-tyylinen lähdeviittaus

Dziarzhytski, Siarhei, Frank Siewert, Andrey Sokolov, Grzegorz Gwalt, Tino Seliger, Michael Rübhausen, Holger Weigelt, ja Günter Brenner. "Diffraction Gratings Metrology and Ray-tracing Results for an XUV Raman Spectrometer At FLASH." J Synchrotron Radiat 2018.

MLA-viite

Dziarzhytski, Siarhei, et al. "Diffraction Gratings Metrology and Ray-tracing Results for an XUV Raman Spectrometer At FLASH." J Synchrotron Radiat 2018.

Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.