Trueb, J., Avci, O., Sevenler, D., Connor, J. H., & Ünlü, M. S. (2016). Robust Visualization and Discrimination of Nanoparticles by Interferometric Imaging. IEEE J Sel Top Quantum Electron.
Citação norma ChicagoTrueb, Jacob, Oguzhan Avci, Derin Sevenler, John H. Connor, e M. Selim Ünlü. "Robust Visualization and Discrimination of Nanoparticles By Interferometric Imaging." IEEE J Sel Top Quantum Electron 2016.
Citação norma MLATrueb, Jacob, et al. "Robust Visualization and Discrimination of Nanoparticles By Interferometric Imaging." IEEE J Sel Top Quantum Electron 2016.
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