Martins, J., Bahubalindruni, P., Rovisco, A., Kiazadeh, A., Martins, R., Fortunato, E., & Barquinha, P. (2017). Bias Stress and Temperature Impact on InGaZnO TFTs and Circuits. Materials (Basel).
Styl ChicagoMartins, Jorge, Pydi Bahubalindruni, Ana Rovisco, Asal Kiazadeh, Rodrigo Martins, Elvira Fortunato, a Pedro Barquinha. "Bias Stress and Temperature Impact On InGaZnO TFTs and Circuits." Materials (Basel) 2017.
Citace podle MLAMartins, Jorge, et al. "Bias Stress and Temperature Impact On InGaZnO TFTs and Circuits." Materials (Basel) 2017.
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..