Michałowski, P. P., Kaszub, W., Pasternak, I., & Strupiński, W. (2017). Graphene Enhanced Secondary Ion Mass Spectrometry (GESIMS). Sci Rep.
Chicago Style CitationMichałowski, Paweł Piotr, Wawrzyniec Kaszub, Iwona Pasternak, i Włodek Strupiński. "Graphene Enhanced Secondary Ion Mass Spectrometry (GESIMS)." Sci Rep 2017.
Cita MLAMichałowski, Paweł Piotr, Wawrzyniec Kaszub, Iwona Pasternak, i Włodek Strupiński. "Graphene Enhanced Secondary Ion Mass Spectrometry (GESIMS)." Sci Rep 2017.
Atenció: Aquestes cites poden no estar 100% correctes.