APA Цитирование

Chen, R., Hu, K., Yu, Y., Mirkin, M. V., & Amemiya, S. (2016). Focused-Ion-Beam-Milled Carbon Nanoelectrodes for Scanning Electrochemical Microscopy. J Electrochem Soc.

Chicago-стиль цитирования

Chen, Ran, Keke Hu, Yun Yu, Michael V. Mirkin, and Shigeru Amemiya. "Focused-Ion-Beam-Milled Carbon Nanoelectrodes for Scanning Electrochemical Microscopy." J Electrochem Soc 2016.

MLA-цитирование

Chen, Ran, et al. "Focused-Ion-Beam-Milled Carbon Nanoelectrodes for Scanning Electrochemical Microscopy." J Electrochem Soc 2016.

Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.