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Khan, Z. N., Ahmed, S., & Ali, M. (2016). Effect of Thermal Budget on the Electrical Characterization of Atomic Layer Deposited HfSiO/TiN Gate Stack MOSCAP Structure. PLoS One.

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Khan, Z. N., S. Ahmed, and M. Ali. "Effect of Thermal Budget On the Electrical Characterization of Atomic Layer Deposited HfSiO/TiN Gate Stack MOSCAP Structure." PLoS One 2016.

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Khan, Z. N., S. Ahmed, and M. Ali. "Effect of Thermal Budget On the Electrical Characterization of Atomic Layer Deposited HfSiO/TiN Gate Stack MOSCAP Structure." PLoS One 2016.

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