APA Цитирование

Colin-York, H., Shrestha, D., Felce, J. H., Waithe, D., Moeendarbary, E., Davis, S. J., . . . Fritzsche, M. (2016). Super-Resolved Traction Force Microscopy (STFM). Nano Lett.

Chicago-стиль цитирования

Colin-York, Huw, Dilip Shrestha, James H. Felce, Dominic Waithe, Emad Moeendarbary, Simon J. Davis, Christian Eggeling, and Marco Fritzsche. "Super-Resolved Traction Force Microscopy (STFM)." Nano Lett 2016.

MLA-цитирование

Colin-York, Huw, et al. "Super-Resolved Traction Force Microscopy (STFM)." Nano Lett 2016.

Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.