Dahmen, T., Engstler, M., Pauly, C., Trampert, P., de Jonge, N., Mücklich, F., & Slusallek, P. (2016). Feature Adaptive Sampling for Scanning Electron Microscopy. Sci Rep.
Citação norma ChicagoDahmen, Tim, Michael Engstler, Christoph Pauly, Patrick Trampert, Niels de Jonge, Frank Mücklich, and Philipp Slusallek. "Feature Adaptive Sampling for Scanning Electron Microscopy." Sci Rep 2016.
Citação norma MLADahmen, Tim, et al. "Feature Adaptive Sampling for Scanning Electron Microscopy." Sci Rep 2016.
Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma.