Zhou, Y., Fox, D. S., Maguire, P., O’Connell, R., Masters, R., Rodenburg, C., . . . Zhang, H. (2016). Quantitative secondary electron imaging for work function extraction at atomic level and layer identification of graphene. Sci Rep.
Citação norma ChicagoZhou, Yangbo, et al. "Quantitative Secondary Electron Imaging for Work Function Extraction At Atomic Level and Layer Identification of Graphene." Sci Rep 2016.
Citação norma MLAZhou, Yangbo, et al. "Quantitative Secondary Electron Imaging for Work Function Extraction At Atomic Level and Layer Identification of Graphene." Sci Rep 2016.
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