Přeskočit na obsah
VuFind
Váš účet
Odhlásit
Přihlásit
Jazyk
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português (Brasil)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Vše
Autor
Název
Název časopisu
Téma
ISBN/ISSN
Tag
Hledat
Pokročilé
Two-dimensional in situ metrol...
Zaslat záznam emailem
Zaslat záznam emailem:
Two-dimensional in situ metrology of X-ray mirrors using the speckle scanning technique
Komu:
Zpráva:
×
Načítá se...