एपीए उद्धरण

Hawlová, P., Verger, F., Nazabal, V., Boidin, R., & Němec, P. (2015). Test-Photostability of pulsed laser deposited amorphous thin films from Ge-As-Te system. Sci Rep.

शिकागो स्टाइल उद्धरण

Hawlová, P., F. Verger, V. Nazabal, R. Boidin, और P. Němec. "Test-Photostability of Pulsed Laser Deposited Amorphous Thin Films From Ge-As-Te System." Sci Rep 2015.

एमएलए उद्धरण

Hawlová, P., et al. "Test-Photostability of Pulsed Laser Deposited Amorphous Thin Films From Ge-As-Te System." Sci Rep 2015.

चेतावनी: ये उद्धरण हमेशा 100% सटीक नहीं हो सकते हैं.