Citazione APA

Glatzel, T., Hölscher, H., Schimmel, T., Baykara, M. Z., Schwarz, U. D., & Garcia, R. (2012). Advanced atomic force microscopy techniques. Beilstein-Institut.

Stile di citazione Chicago

Glatzel, Thilo, Hendrik Hölscher, Thomas Schimmel, Mehmet Z. Baykara, Udo D. Schwarz, e Ricardo Garcia. Advanced Atomic Force Microscopy Techniques. Beilstein-Institut, 2012.

Citazione MLA

Glatzel, Thilo, et al. Advanced Atomic Force Microscopy Techniques. Beilstein-Institut, 2012.

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