Kumar, M., Bagga, A., & Neeleshwar, S. (2012). Tailoring of Seebeck coefficient with surface roughness effects in silicon sub-50-nm films. Springer.
Chicago-tyylinen lähdeviittausKumar, Manoj, Anjana Bagga, ja S. Neeleshwar. Tailoring of Seebeck Coefficient With Surface Roughness Effects in Silicon Sub-50-nm Films. Springer, 2012.
MLA-viiteKumar, Manoj, Anjana Bagga, ja S. Neeleshwar. Tailoring of Seebeck Coefficient With Surface Roughness Effects in Silicon Sub-50-nm Films. Springer, 2012.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.