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X-ray Image Classification Using Random Forests with Local Wavelet-Based CS-Local Binary Patterns

This paper presents a fast and efficient method for classifying X-ray images using random forests with proposed local wavelet-based local binary pattern (LBP) to improve image classification performance and reduce training and testing time. Most studies on local binary patterns and its modifications...

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ग्रंथसूची विवरण
मुख्य लेखकों: Ko, Byoung Chul, Kim, Seong Hoon, Nam, Jae-Yeal
स्वरूप: Artigo
भाषा:Inglês
प्रकाशित: Springer-Verlag 2011
विषय:
ऑनलाइन पहुंच:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3222545/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/21487837
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1007/s10278-011-9380-3
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