Citação norma APA

Roussel, M., Talbot, E., Gourbilleau, F., & Pareige, P. (2011). Atomic characterization of Si nanoclusters embedded in SiO(2 )by atom probe tomography. Springer.

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Roussel, Manuel, Etienne Talbot, Fabrice Gourbilleau, and Philippe Pareige. Atomic Characterization of Si Nanoclusters Embedded in SiO(2 )by Atom Probe Tomography. Springer, 2011.

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Roussel, Manuel, Etienne Talbot, Fabrice Gourbilleau, and Philippe Pareige. Atomic Characterization of Si Nanoclusters Embedded in SiO(2 )by Atom Probe Tomography. Springer, 2011.

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