McMullan, G., Faruqi, A., Henderson, R., Guerrini, N., Turchetta, R., Jacobs, A., & van Hoften, G. (2009). Experimental observation of the improvement in MTF from backthinning a CMOS direct electron detector. Elsevier.
Citação norma ChicagoMcMullan, G., A.R Faruqi, R. Henderson, N. Guerrini, R. Turchetta, A. Jacobs, and G. van Hoften. Experimental Observation of the Improvement in MTF From Backthinning a CMOS Direct Electron Detector. Elsevier, 2009.
Citação norma MLAMcMullan, G., et al. Experimental Observation of the Improvement in MTF From Backthinning a CMOS Direct Electron Detector. Elsevier, 2009.
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