Mosbacher, J., Langer, M., Hörber, J., & Sachs, F. (1998). Voltage-dependent Membrane Displacements Measured by Atomic Force Microscopy. The Rockefeller University Press.
Chicago-tyylinen lähdeviittausMosbacher, J., M. Langer, J.K.H Hörber, ja F. Sachs. Voltage-dependent Membrane Displacements Measured By Atomic Force Microscopy. The Rockefeller University Press, 1998.
MLA-viiteMosbacher, J., M. Langer, J.K.H Hörber, ja F. Sachs. Voltage-dependent Membrane Displacements Measured By Atomic Force Microscopy. The Rockefeller University Press, 1998.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.