Mosbacher, J., Langer, M., Hörber, J., & Sachs, F. (1998). Voltage-dependent Membrane Displacements Measured by Atomic Force Microscopy. The Rockefeller University Press.
Citação norma ChicagoMosbacher, J., M. Langer, J.K.H Hörber, and F. Sachs. Voltage-dependent Membrane Displacements Measured By Atomic Force Microscopy. The Rockefeller University Press, 1998.
Citação norma MLAMosbacher, J., M. Langer, J.K.H Hörber, and F. Sachs. Voltage-dependent Membrane Displacements Measured By Atomic Force Microscopy. The Rockefeller University Press, 1998.
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