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Analisador de amplitude e fase
A motivação deste trabalho veia da necessidade de avaliar o desempenho global (eletrônico e mecânico) de um Microscópio de Força Atômica (AFM) de alta velocidade de varredura, que vem sendo desenvolvido em uma parceria entre a UFRJ e o Inmetro. Este projeto tem como proposta o desenvolvimento e a mo...
שמור ב:
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| פורמט: | Trabalho de conclusão de graduação |
| שפה: | Português |
| יצא לאור: |
Universidade Federal do Rio de Janeiro
2009-03
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| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | http://hdl.handle.net/11422/7577 |
| תגים: |
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