تخطي إلى المحتوى
VuFind
حسابك
تسجيل الخروج
تسجيل الدخول
اللغة
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português (Brasil)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
كل الحقول
المؤلف
العنوان
عنوان الدورية
الموضوع
ردمك/تدمد
الوسم
ابحث
بحث متقدم
بحث عن
Dependence of resistivity of e...
إرسال التسجيلة بالبريد الالكتروني
إرسال التسجيلة بالبريد الالكتروني:
Dependence of resistivity of electrodeposited Ni single layer and Ni/Cu multilayer thin films on the film thickness, and electron mean free path measurements of these films
إلى:
رسالة:
×
تحميل...