Simultaneous imaging of the ferromagnetic and ferroelectric structure in multiferroic heterostructures

By measuring the spin polarization of secondary electrons and the intensity of backscattered electrons generated in a scanning electron microscope, we are able to simultaneously image the ferromagnetic domain structure of a ferromagnetic thin film and the ferroelectric domain structure of the underl...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: J. Unguris, S. R. Bowden, D. T. Pierce, M. Trassin, R. Ramesh, S.-W. Cheong, S. Fackler, I. Takeuchi
Định dạng: Artigo
Ngôn ngữ:Inglês
Được phát hành: AIP Publishing LLC 2014-07-01
Loạt:APL Materials
Truy cập trực tuyến:http://dx.doi.org/10.1063/1.4890055
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!

Những quyển sách tương tự